Дифрактометр рентгеновский X PERT PRO (PANanalytical, Нидерланды) модульной конструкции для научных исследований и аналитического контроля в промышленности. Большое разнообразие возможных конфигураций и дополнительных устройств обеспечивают универсальность этого прибора при решении всего круга задач порошковой рентгеновской дифрактометрии.
Описание:
Описание:
- Варианты гониометров: q - q и q - 2q
вертикальные и горизонтальные, нормального и высокого разрешения
вертикальные и горизонтальные, нормального и высокого разрешения
- Возможность установки рентгеновского зеркала и монохроматора высокого разрешения
- Высокоточная система прямого оптического отслеживания позиции гониометра (DOPS)
- Фабричная калибровка оптических модулей и держателей образцов обеспечивает их смену без дополнительной подстройки
- Использование уникальных рентгеновских трубок
- Применение быстродействующих детекторов.
Существуют две модели дифрактометров X PERT PRO. В многоцелевой модели дифрактометра MPD (Multi-Purpose Diffractometer) используется гониометр нормального разрешения, выполненный для работы по оптической оси, расположенной как в вертикальной, так и в горизонтальной плоскости. В модели многоцелевого дифрактометра исследовательского типа MRD (Multi-Purpose Research Diffractometer) используется только горизонтальный гониометр высокого разрешения.
Рентгеновские трубки PANalytical запатентованной конструкции. Их высокоточное производство не имеет аналогов. Уникальным является то, что в одной трубке возможно использование различных фокусировок рентгеновского пучка. Трубку, имеющую четыре выходных окна, можно повернуть в кожухе, не отключая охлаждающую воду и не нарушая оптическую юстировку. Это позволяет выполнять на одном дифрактометре фазовый анализ порошковых материалов, используя линейный фокус рентгеновской трубки, и анализ текстур, стрессов и микродифрак- ционные исследования при точечном фокусе. Смена фокуса трубки, либо замена на трубку с другим анодом, выполняется всего за 10 минут, после чего переюстировка оптической оси не требуется.
Новейшая технология детектирования рентгеновского излучения - широкодиапазонное измерение в режиме реального времени (RTMS), воплощена в новом быстродействующем твердотельном детекторе X'Celerator, который состоит из ряда параллельно соединенных детекторов, что, в некоторых случаях, обеспечивает 100-кратное увеличение эффективности регистрации по сравнению с традиционными счетчиками. Это позволяет снизить время измерения в полном диапазоне углов с двух часов до нескольких минут без ухудшения разрешения. В 2006 году фирма PANalytical начала выпуск детектора PIXcel. Это твердотельный детектор 2-го поколения, разработанный как для традиционных, так и для специальных задач рентгеновской дифрактометрии. Детектор PIXcel состоит из 65 тысяч чувствительных элементов (пикселей), размер каждого из которых составляет 55 x 55 микрон. Все чувствительные элементы имеют индивидуальные циклы счетной загрузки, что обеспечивает огромный динамический диапазон счета (более 25 миллионов импульсов в секунду для каждой линии пикселей), поэтому использование детектора PIXcel не требует установки аттенюатора. Применение детектора PIXcel в комбинации с монохроматором обеспечивает запись дифрактограмм с непревзойденным отношением пик/фон. Дифрактометры X'PERT PRO также оснащаются и традиционными детекторами: пропорциональный, сцинтилляционный, позиционно-чувствительный.
Конфигурации дифрактометра при решении типичных задач. результаты измерений:
Поликристаллические материалы с плоской поверхностью. Измерения в отраженном пучке. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ остаточных напряжений материалов. Парафокусирующая схема Брэгга-Брентано, фиксированные или программируемые щели, традиционный точечный детектор или X'Celerator.
Поликристалличесие материалы с шероховатой поверхностью, либо образцы прозрачные для рентгеновского излучения, также деформируемые образцы. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ остаточных напряжений материалов. Возможен анализ при изменении состояния образца.
Поликристаллические материалы. Измерения в просвечивающем пучке. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ текстуры. Исследование рентгено-прозрачных образцов. Малоугловые измерения.
Поликристаллические материалы. Измерения в просвечивающем пучке. Идентификация и количественный анализ фаз, кристаллографические исследования. Анализ текстуры. Исследование рентгено-прозрачных образцов. Малоугловые измерения.
Поликристаллические материалы в капиллярном держателе. Идентификация фаз и кристаллографические исследования малых количеств вещества, а также анализ образцов, которые структурируются при других способах подготовки пробы.
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Измерение толщины слоев, плотности и качества поверхностей раздела с использованием отражения первичного (квази-) параллельного облучающего пучка. Для анализа слоев толще 100 нм возможно использование гибридного монохроматора.
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Идентификация фаз с увеличенной поверхностной чувствительностью, повышенная глубина анализа при работе с многослойными образцами. Возможно применение рентгеновского зеркала.
Тонкие пленки, покрытия, напыления. Определение качества, толщины и единообразия высокоупорядоченных и эпитаксиальных слоев, участков повышенной напряженности. Определение степени совершенства кристаллов. Картирование в обратном пространстве при перемещении образца по кривым качения.
Конструкционные материалы. Анализ остаточных напряжений и стрессов. Анализ текстуры проводят при одновременном наклоне и вращении образца. Рентгеновская линза позволяет работать с шероховатыми и не плоскими образцами и достигать наибольших углов наклона для получения наилучших результатов.
Микро пробы и точечные участки образцов. Идентификация фаз образцов очень малого размера или анализ отдельных точек гетерогенных образцов. Микродифракция.
Опросный лист:
Для получения коммерческого предложения на дифрактометр необходимо предоставить список ответов на следующие вопросы:
1) Каковы объекты исследований?
- порошки
- полупроводниковые структур
- тонкие плёнки и т.д.
2) Размер и форма исследуемых объектов?
3) Какой анод трубки?
- Co
- Cu
- Cr
4) Требования к гониометру:
- вертикальный или горизонтальный?
- радиус гониометра?
- минимальный шаг гониометра?
- точность установки угла?
5) Какие виды исследований будут проводиться?
- фазовый анализ количественный и качественный
- уточнение параметров кристаллической решетки
- исследования тонких пленок
- исследование остаточных напряжений
- исследование текстуры
- исследование размеров кристаллитов
- исследование кривых качания
- эпитаксиальные исследования
- картирование в обратном пространстве и т.д.
6) Будут проводиться измерения при высоких /низких температурах или при повышенной влажности?
7) Требования к детектору?
- быстродействующий твердотельный PIXcel
- X'celerator
- сцинтилляционный или пропорциональный
8) Какие базы данных по структурам необходимы?
- PDF-2
- PDF-4
- структурная база данных
9) Щели:
- программируемые
- фиксированные
10) Требуется ли микродифракция?