Notice: Undefined offset: 1 in /home/l/lab21ru/lab-21.ru/public_html/classes/modules/stat/classes/libs/detect.php on line 394
Дифрактометр рентгеновский CubiX PRO (PANanalytical, Нидерланды)
Задать вопрос
Телефон в Казани:
+7 (843) 229-13-81
E-mail:
info@lab-21.ru
Отправить заявку

Наши клиенты покупают у нас, потому что доверяют нам. Мы с оптимизмом смотрим в будущее и стремимся превзойти ожидания наших клиентов.

Лейсан Гаязова
Генеральный директор
Продукты Прайс-лист
Дифрактометр рентгеновский CubiX PRO (PANanalytical, Нидерланды)

Описание

Дифрактометр рентгеновский CubiX PRO (PANanalytical, Нидерланды) - первый промышленный дифрактометр, не уступающий по качеству получаемых аналитических параметров исследовательским дифрактометрам (типа X Pert PRO), оптимизированный для промышленного применения. CubiX PRO использует хорошо зарекомендовавший себя q - q гониометр с горизонтальной системой смены проб, при этом рентгеновская трубка находится над образцом. Прямое оптическое отслеживание позиции гониометра (DOPS) позволило
достигнуть наивысшего параметра воспроизводимости установки - 0.00010
 
Новый быстродействующий детектор X Celerator. X Celerator использует новейшую технологию детектирования (RTMS) - широкодиапазонное измерение в режиме реального времени. По сути это система, которая заменяет одиночный детектор рядом параллельно соединенных детекторов для обеспечения 100-кратного увеличения эффективности по сравнению с традиционными пропорциональными счетчиками. X Celerator таким образом снижает время измерения с двух часов до нескольких минут без ухудшения разрешения.
 
Широкий диапазон опций. В дополнение к выбору между стандартным прибором CubiX PRO и CubiX Fast (включающим X Celerator) имеется целый ряд опций для того, чтобы оптимально сконфигурировать дифрактометр для решения различных задач в настоящее время и на перспективу.
 
Дополнительный детектор для регистрации флуоресцентного излучения. Конструкция CubiX PRO может быть оборудована очень близко расположенным к поверхности пробы и, следовательно, очень чувствительным вторым детектором для измерения характеристического флуоресцентного излучения какого-либо специфического элемента. Это позволило, прежде всего, создать специализированную модель CubiX PRO Potflux для применения в алюминиевой промышленности. Стандартная модель CubiX PRO в этом случае дополнена детектором для регистрации характеристического излучения кальция.
 
Выбор сменщиков образцов. Дифрактометрическая система CubiX PRO может быть оборудована двумя типами сменщиков образцов. Стандартным является быстрый 64-х позиционный горизонтальный сменщик, который до двух раз быстрее, чем сменщик проб кассетно-магазинного типа. В качестве альтернативного сменщика может быть предложен вертикальный 21-позиционный сменщик.
 
Быстрый пневматический загрузочный механизм. CubiX PRO оснащен самыми быстрыми в мире загрузочным механизмом. Этот простой и надежный механизм осуществляет полный загрузочно-разгрузочный цикл менее, чем за 10 секунд.
 
Дополнив стандартную модель CubiX PRO новым детектором X'Celerator, быстродействующим пневматическим загрузочным механизмом и 64-х позиционным горизонтальным сменщиком образцов пользователь может получить самый быстрый в своем классе дифрактомектр CubiX PRO Fast.
 
Опросный лист:
 
Для получения коммерческого предложения на дифрактометр необходимо предоставить список ответов на следующие вопросы:
1) Каковы объекты исследований?
     - порошки
     - полупроводниковые структур
     - тонкие плёнки и т.д.
2) Размер и форма исследуемых объектов?
3) Какой анод трубки?
    - Co
    - Cu
    - Cr
4) Требования к гониометру:
     - вертикальный или горизонтальный?
     - радиус гониометра?
     - минимальный шаг гониометра?
     - точность установки угла?
5) Какие виды исследований будут проводиться?
    - фазовый анализ количественный и качественный
    - уточнение параметров кристаллической решетки
    - исследования тонких пленок
    - исследование остаточных напряжений
    - исследование текстуры
    - исследование размеров кристаллитов
    - исследование кривых качания
    - эпитаксиальные исследования
    - картирование в обратном пространстве и т.д.
6) Будут проводиться измерения при высоких /низких температурах или при повышенной влажности?
7) Требования к детектору?
    - быстродействующий твердотельный PIXcel
    - X'celerator
    - сцинтилляционный или пропорциональный
8) Какие базы данных по структурам необходимы?
    - PDF-2
    - PDF-4
    - структурная база данных
9) Щели:
    - программируемые
    - фиксированные
10) Требуется ли микродифракция?
 
Стоимость по запросу
Заказать