Notice: Undefined offset: 1 in /home/l/lab21ru/lab-21.ru/public_html/classes/modules/stat/classes/libs/detect.php on line 394
Спектрофотометр SolidSpec-3700 SHIMADZU (Япония)
Задать вопрос
Телефон в Казани:
+7 (843) 229-13-81
E-mail:
info@lab-21.ru
Отправить заявку

Наши клиенты покупают у нас, потому что доверяют нам. Мы с оптимизмом смотрим в будущее и стремимся превзойти ожидания наших клиентов.

Лейсан Гаязова
Генеральный директор
Продукты Прайс-лист
Спектрофотометр SolidSpec-3700 SHIMADZU (Япония)

Описание

Спектрофотометр SolidSpec-3700 SHIMADZU (Япония)
 
Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
 
В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.
 
Технические характеристики:

Спектральный диапазон
SolidSpec-3700: стандартная модель 240 ~ 2600 нм с использованием приставки для прямого детектирования 190 ~ 3300 нм.
SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175 ~ 2600 нм с использованием приставки для прямого детектирования 165 ~ 3300 нм.
Спектральная ширина щели
8 ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области
10 ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области
Оптическая схема Двухлучевая
Разрешение 0,1 нм
Шаг по длине волны от 0,01 до 5 нм
Погрешность установки длины волны
± 0,2 нм в УФ / видимой области
± 0,8 нм в ближней ИК области
Воспроизводимость длины волны
± 0,08 нм в УФ/видимой области
± 0,32 нм в ближней ИК области
Скорость сканирования
Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора
Переключение ламп Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм)
Рассеянный свет
< 0,00008% (220 нм, NaI)
< 0,00005% (340 нм, NaNO2)
< 0,0005% (1420 нм, H2O)
< 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Фотометрический диапазон –6 ~ 6 Abs
Фотометрическая точность
± 0,002 Abs (0~0,5 Abs) NIST 930D фильтр
± 0,003 Abs (1,0 Abs) NIST 930D фильтр
Уровень шума
0,0002 Abs или менее (500 нм)
0,00005 Abs или менее (1500 нм),
щель 8 нм, пост. времени 1 с
Колебания базовой линии
± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм),
± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм),
± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм),
± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU
Дрейф
SolidSpec-3700
0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)
SolidSpec-3700DUV
0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с)
Источники света
50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы)
Дейтериевая лампа (1250 часов работы)
Встроенное автоматическое позиционирование ламп.
Монохроматор Двойной монохроматор с дифракционными решетками
Детекторы
УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 дляSolidSpec-3700DUV) 
Ближняя ИК область:  InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS
Окружающая температура 15-35 °С
Окружающая влажность
От 35 до 80% (комн. температура 15 – 30 °С)
От 35 до 70% (комн. температура 30 – 35 °С, без конденсации)
Размеры кюветного отделения
900 x 700 x 350 мм (Ш х Г х В)
Максимальный размер образца 700 х 560 х 40 мм (Ш х Г х В)
Размеры 1000 x 800 x 1200 мм (Ш х Г х В)
Вес 170 кг
Стоимость по запросу
Заказать